LNM的计算机断层成像系统为双源双探，双源即225kV微焦点和450kV光源，双探为平板和线阵列探测器。可检测直径600mm、高度800mm、重量不超过60Kg的试件。仪器相关参数如下：
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序号
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项目
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1
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光源
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450kV大/小焦点
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225kV微焦点μCT
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2
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探测器
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（1）LDA：2356 pixel（2）XRD：2048² Pixel
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3
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扫描模式
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数字化实时成像（DR透视成像）；
数字化线性扫描（DL线性扫描）；
连续旋转扫描（CT断层扫描：2D/ 3D扫描方式）
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4
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空间分辨率—XRD
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7Lp/mm
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23 Lp/mm
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空间分辨率—LDA
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6Lp/mm
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18 Lp/mm
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5
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细节分辨率
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≤50µm
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≤5µm
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6
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最大放大倍数
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200倍
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CT系统能对金属和非金属材料部件的内部结构缺陷、装填物的装填质量等（如裂纹、气孔、夹杂、夹沙、疏松、脱粘、装配正确性等）进行无损检测（NDT），已广泛应用于航天、航空、国防、军工、机械、铁路、汽车、铸造、能源、地质、冶金、材料、建筑、电子等领域。另外，LNM实验室的CT设备致力于材料准静态原为加载实时观测实验。
