LNM的计算机断层成像系统为双源双探，双源即225kV微焦点和450kV光源，双探为平板和线阵列探测器。可检测直径600mm、高度800mm、重量不超过60Kg的试件。仪器相关参数如下：
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序号 |
项目 |
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1 |
光源 |
450kV大/小焦点 |
225kV微焦点μCT |
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2 |
探测器 |
（1）LDA：2356 pixel（2）XRD：2048²Pixel |
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3 |
扫描模式 |
数字化实时成像（DR透视成像）；
数字化线性扫描（DL线性扫描）；
连续旋转扫描（CT断层扫描：2D/ 3D扫描方式） |
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4
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空间分辨率—XRD |
7Lp/mm |
23 Lp/mm |
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空间分辨率—LDA |
6Lp/mm |
18 Lp/mm |
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5 |
细节分辨率 |
≤50µm |
≤5µm |
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6 |
最大放大倍数 |
200倍 |
CT系统能对金属和非金属材料部件的内部结构缺陷、装填物的装填质量等（如裂纹、气孔、夹杂、夹沙、疏松、脱粘、装配正确性等）进行无损检测（NDT），已广泛应用于航天、航空、国防、军工、机械、铁路、汽车、铸造、能源、地质、冶金、材料、建筑、电子等领域。另外，LNM实验室的CT设备致力于材料准静态原为加载实时观测实验。
