微纳米力学测试系统
时间: 2014-09-11 来源: 【大 | 中 | 小】 【打印】
纳米力学测试系统 Agilent Nano Indenter G200
副标题:
(1) 测试功能
“纳米/显微/宏观”尺度的仪器化压入和划入,主要用于测试小块或薄膜样品的弹性模量和压入硬度、薄膜临界附着力和摩擦系数等。具有连续刚度测试模式、原位压痕形貌扫描、刚度扫描和快速压入测试等功能。
(2) 重要参数
压入载荷量程:XP, 500mN;DCM II, 30mN; High Load, 10N。
压入载荷分辨力:XP, 50nN;DCM II, 3nN; High Load, 1mN。
Z向位移分辨力:XP, 0.01nm;DCM II, 0.0002nm; High Load, 0.01nm。
横向载荷量程:250mN。
横向载荷分辨力:2μN。
高温样品台温度范围:室温~350℃。
X-Y平面扫描范围:Survey Scanning, 500μm×500μm;NanoVision, 100μm×100μm。