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微纳米力学测试系统 时间: 2014-09-11   来源:   【 |  | 】  【打印

纳米力学测试系统 Agilent Nano Indenter G200

副标题:

Agilent Nano Indenter G200-1.JPG

       (1) 测试功能

       “纳米/显微/宏观”尺度的仪器化压入和划入,主要用于测试小块或薄膜样品的弹性模量和压入硬度、薄膜临界附着力和摩擦系数等。具有连续刚度测试模式、原位压痕形貌扫描、刚度扫描和快速压入测试等功能。

       (2) 重要参数

       压入载荷量程:XP, 500mNDCM II, 30mN High Load, 10N

压入载荷分辨力:XP, 50nNDCM II, 3nN High Load, 1mN

Z向位移分辨力:XP, 0.01nmDCM II, 0.0002nm High Load, 0.01nm

横向载荷量程:250mN

横向载荷分辨力:2μN

高温样品台温度范围:室温~350℃。

       X-Y平面扫描范围:Survey Scanning, 500μm×500μmNanoVision, 100μm×100μm

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